光學熱臺JK-GH600S是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。 產品采用電阻加熱的方式，實現RT~600℃范圍內精準控制，與其他光學設備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。

Instruments拉伸機冷熱臺拉伸機冷熱臺-JK-CH600LSJ型自調節拉伸機冷熱臺 是一種安裝在萬能試驗機上研究樣品在變溫條件下進行應力應變測試的產品。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）溫度下材料的動態應力應變特性測試，可選配DIC、視頻引伸計實現應變數據的高精度采集。

JK-150BPE型半導體冷熱臺又稱帕爾貼冷熱臺，利用半導體的熱-電效應制冷，配合循環水散熱，在 -30~150℃的溫度范圍內進行控溫，實現樣品在開放式 / 氣密 / 真空環境下的變溫光學、電學等測試。

半導體冷熱臺JK-120BCH采用半導體致冷，配合低溫循環液，實現從-40到180℃（選型）的控溫。 結構緊湊，適用于各種變溫測試 氣密腔室設計，可通保護氣體 多探針測試 上位機軟件控制 支持改動或定制

半導體冷熱臺JK-120BPE、BPE100采用半導體冷熱控制，配合循環水散熱，實現從-25~120℃（選型）的控溫。無需液氮等致冷劑，具有無噪聲、無振動等特點。可以實現變溫光學測試，或者選配探針實現變溫電學測試。

探針冷熱臺JK-600C是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃范圍內精準控制，與其他電學儀表（如電橋、源表、萬用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。