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    型號(hào):HTRC-600
    高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)

    描述:HTRC-600型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)是一款專門用于測(cè)量材料電阻,電導(dǎo)率的設(shè)備,采用由四端測(cè)量方法測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱為一體的的高溫測(cè)試系統(tǒng),滿足半導(dǎo)體及導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的 測(cè)量要求,通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測(cè)量導(dǎo)電材料電阻和電阻率,可以分析被測(cè)樣的電阻和電阻率隨溫度、 時(shí)間變化的曲 線. 目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(zhǎng)條等樣品進(jìn)行測(cè)試,可以廣泛用于碳系導(dǎo)電

    • 廠商性質(zhì)

      生產(chǎn)廠家
    • 更新時(shí)間

      2025-04-21
    • 訪問量

      3612
    產(chǎn)品分類PRODUCT

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    HTRC-600型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)

     

    HTRC-600型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)

    關(guān)鍵詞:電導(dǎo)率,電阻率,高溫600℃,兩探針,四探針

         HTRC-600型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)是一款專門用于測(cè)量材料電阻,電導(dǎo)率的設(shè)備,采用由四端測(cè)量方法測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱為一體的的高溫測(cè)試系統(tǒng),滿足半導(dǎo)體及導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的 測(cè)量要求,通以在高溫  、真空、氣氛的條件下測(cè)量導(dǎo)電材料電阻和電阻率,可以分析被測(cè)樣的電阻和電阻率隨溫度、 時(shí)間變化的曲 線. 目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(zhǎng)條等樣品進(jìn)行測(cè)試,可以廣泛用于碳系導(dǎo)電材料、 金屬系導(dǎo)電材料、 金屬氧化物系導(dǎo)電材料、結(jié) 構(gòu)型高分子導(dǎo)電材料、復(fù)合導(dǎo)電材料等材料的電阻率測(cè)量。 過*測(cè)控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線。

     

     

    一、主要應(yīng)用范圍:

    1、  廣泛用于碳系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測(cè)量

    2、  金屬系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測(cè)量

    3、  金屬氧化物系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測(cè)量

    4、  高分子導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測(cè)量

    5、  復(fù)合導(dǎo)電材料等材料的電阻率測(cè)量

    6、  可以測(cè)量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率

    7、  符合標(biāo)準(zhǔn):ASTM B193-02和GBT 6146-2010 GBT15662-1995

    8、  產(chǎn)品主要特點(diǎn):

    1、高溫兩探針夾具與帶升降高溫測(cè)試平臺(tái)配合使用,組成高溫兩探針測(cè)試平臺(tái);

    2測(cè)溫?zé)犭娕继筋^與樣品平臺(tái)為同一熱沉,確保測(cè)量溫度與樣品溫度的*性;

     

    3、采用緊湊型設(shè)計(jì),體積小、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔,操作簡(jiǎn)單、方便;

    4' 隔熱盤隔離樣品平臺(tái)與調(diào)節(jié)平臺(tái),并與高溫測(cè)試平臺(tái)重合,具有理想的隔熱保溫效果;

    5、  探針調(diào)節(jié)裝置具有三維精確調(diào)節(jié)功能,精確定位探針的位置;

    6、  探針調(diào)節(jié)裝置具有粗調(diào)功能,有效增大探針的調(diào)節(jié)范圍;

    7、  探針調(diào)節(jié)裝置帶探針壓力調(diào)節(jié)功能,確保探針與樣品的良好接觸,又不損傷樣品;

    8、  探針采用帶同軸屏蔽層設(shè)計(jì),減少電磁對(duì)測(cè)量的干擾;

    9、探針電極選用鉑銥合金,有效減少接觸電阻,并具有良好的高溫抗氧化能力;

    10、自帶校準(zhǔn)件,與各測(cè)試儀器配套,校準(zhǔn)測(cè)試夾具。

     

    主要技術(shù)參數(shù):

    1、測(cè)量溫度范圍:RT~600℃或RT~800℃或RT~1200℃可選

    2、測(cè)試探針:     2個(gè)高溫高頻探針或4個(gè)高頻探針

    3、電極直徑:26.8mm

    4、樣品大小:厚度小于10 mm,直徑5~40mm

    5、溫控方式:恒溫、變溫、常溫

    6、控溫精度:±0.4℃

    7、電阻率:10nΩ-10MΩ

    8、電阻:10nΩ-100MΩ

    9、電導(dǎo)率:10-5 105 s/cm

    10、重量:38KG

    11、工作溫度:5℃至40

    12、重量:15KG

    13、可以配合任意型號(hào)Agilent 、 WayneKer r 、 So lar tron 、 同惠、 Keysight

    等LCR表進(jìn)行無縫結(jié)合

    14、設(shè)備可以配合ZJ-3型和ZJ-6型壓電測(cè)試儀進(jìn)行壓電D33系數(shù)測(cè)量

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