本測試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測量，可用于鐵電體的科學研究及近代物理實驗中的固體物理實驗以及工業(yè)化生產鐵電存儲器的鐵電性能檢測中，本測試系統(tǒng)主要由信號源、高壓電源、電荷放大器、積分器、示波器、計算機通訊接口、計算機和應用軟件等部分組成。 模式測量電路，與傳統(tǒng)的 Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試

全自動ZKSJD-600型高低溫介電溫譜儀用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線，可廣泛應用于鐵電壓電陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。測溫范圍從-190℃-600℃，滿足目前條件下測試的要求，同時高低溫阻抗。

GDPT-900A型高低溫壓電材料測試儀+ZJ-4型D33測試儀（靜壓電系數(shù)d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數(shù)而設計的專用儀器，可以測量任意形狀的壓電陶瓷材料，也可以薄膜PVDF材料，在之前的基礎上添加了薄膜拉伸裝置，可以更加直觀的了解薄膜在拉伸條件下的D33數(shù)值。對試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測量，增加了對被測元件的放電保護

模式測量電路，與傳統(tǒng)的 Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標和校準，且能實現(xiàn)較高的測量準確度它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線還可以定量得到鐵電薄膜材料的和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流k等參數(shù)，以及對鐵電薄膜材料的鐵電勞性能、鐵電保持性能的測試，能夠較全面確地測量鐵

TDZT-04C 鐵電材料測試儀 關鍵詞：電滯回線，疲勞，脈沖，漏電流， TDZT-04C鐵電測試儀通過全局總線進行控制，可以有效提高儀器控制速度及安全水平。設備采用孔浮地技術，可有效地降低電荷泄露造成的驅動能力弱及電壓泄露隱患。高壓部分與低壓部分通過浮地結構隔離，并在低壓部分配置有高壓放電管及附屬設施，從而避免因高壓泄露造成的損害。 本次研發(fā)采用DDS數(shù)字脈沖輸出技術，可以在技術

ZJ-4型寬量程型D33系數(shù)綜合測試儀,壓電測試儀（靜壓電系數(shù)d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數(shù)而設計的專用儀器，可以測量任意形狀的壓電陶瓷材料，也可以薄膜PVDF材料，在之前的基礎上添加了薄膜拉伸裝置，可以更加直觀的了解薄膜在拉伸條件下的D33數(shù)值。對試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測量，增加了對被測元件的放電保護、放電提示以及被測波形輸出等功能