晶體結構對鐵電測試儀測試結果的影響

鐵電測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置，這款設備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值。可以進行電致應變測試，可以蝴蝶曲線功能，設備還可以擴展高溫電阻，高溫介電，電容-電壓曲線，TSC/TSDC等功能。動態電滯回線測量-DHM、泄漏電流測量-LM、CV測量-CVM、疲勞測量-FM、保持力測量-RM、印記測量-IM、脈沖測量-PM、靜態電滯回線測量-SHM、擊穿電壓測量-BDM等，對于評估鐵電材料的性能以及優化器件設計具有重要意義。

同一種材料，單晶體和多晶體的電滯回線是不同的。如單晶體的電滯回線很接近于矩形，P和P很接近，而且P較高；陶瓷的電滯回線中P與P相差較多，表明陶瓷多晶體不易成為單疇，即不易定向排列。